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質譜儀器
激光剝蝕進樣系統(tǒng)
質譜儀器
激光剝蝕進樣系統(tǒng)
J200 LA飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)
產品型號:J200 LA
廠商性質:代理商
更新時間:2024-12-20
瀏覽次數:7608
美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)與等離子體質譜連用,組成LA-ICP-MS系統(tǒng),對樣品的元素組成、元素分布進行檢測。可與市面上的普通四級桿質譜儀、飛行時間質譜儀和多接收質譜儀等常見質譜儀聯(lián)用。
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